一、低端電流檢測(cè)方法

下面，我們來分析下原理：

運(yùn)用運(yùn)放的虛短特性，既得到了：

V = V-；

運(yùn)用運(yùn)放的虛斷特性，既輸入端和輸出端沒有電流流過。所以R3和R6流過電流相等。

(VOUT-V-)/R3 = V-/R6；

由上面兩個(gè)式子即可得到

VOUT = V * (R3 R6)/R6；

而又有：

V = I * R8；

所以有：

I =V / R8 = VOUT * R6/(R3 R6)/R8；

電流就這樣轉(zhuǎn)換出來了，調(diào)整好幾個(gè)電阻的阻值，Vout 用單片機(jī)的ADC采樣即可。

二、高端電流檢測(cè)方法

這個(gè)電路要檢測(cè)電流Z終的目的就是要得到圖上VOUT和V1、V2的關(guān)系。

先來分析下輸入端，虛斷可知：

V /R7 = （V2-V )/R5；

虛短得到：

V =V-；

輸入負(fù)極的一條路電流是相等的:

（V--VOUT)/R1 = （V1-V-)/R2；

通常在使用該電路的時(shí)候有R1 = R7、R2 = R5。

綜合上式有：

VOUT = (V2-V1)*R1/R2；

V2-V1 = I*R4;

所以

I = VOUT*R2/(R1*R4) ;