跟著toppower看看AC-DC芯片測(cè)試有哪些難點(diǎn)?
AC-DC電源芯片集成度高,功能強(qiáng)大,復(fù)雜的內(nèi)部結(jié)構(gòu)性能、參數(shù)測(cè)試帶來(lái)了很大的難度, AC-DC芯片測(cè)試有哪些難點(diǎn)?跟著toppower小編來(lái)看看:
1.acdc電源芯片的內(nèi)部結(jié)構(gòu)復(fù)雜,要對(duì)其經(jīng)行測(cè)試,需要對(duì)電路的工作原理、電路的結(jié)構(gòu)組成以及各組成部分之間的關(guān)系、測(cè)試參數(shù)的原理和相對(duì)應(yīng)的測(cè)試方法等多方面有深刻的理解和認(rèn)識(shí)。
2.AC-DC芯片內(nèi)部包含了許多相對(duì)獨(dú)立的部分,對(duì)每個(gè)部分相關(guān)參數(shù)進(jìn)行測(cè)試,需要設(shè)計(jì)專用的測(cè)試線路來(lái)囊括所有測(cè)試項(xiàng)目,就需要測(cè)試系統(tǒng)有相應(yīng)的配套,而且AC-DC芯片需的參數(shù)包含了不同類型的物理量,如頻率量、時(shí)間量、電壓量、電流量等,另外還包含某些需要掃描測(cè)試的閥值量,因此再測(cè)試系統(tǒng)中必須具備針對(duì)于不同部分和不同物理量的專用測(cè)試路線。
3.由于acdc開(kāi)關(guān)電源芯片內(nèi)部各組成模塊是相互的作用,所以某一項(xiàng)參數(shù)經(jīng)行測(cè)試時(shí),需要考慮其他模塊對(duì)其的影響,需要考慮整個(gè)器件的工作模式以及各個(gè)子模塊在工作模式下的相互關(guān)系。
4.由于AC-DC芯片的某些參數(shù)測(cè)試比較敏感,要求測(cè)試路線與被測(cè)電路之間的外圍不能距離太大。
電源芯片的相關(guān)優(yōu)勢(shì):
1.電子設(shè)備所具備的功能越多、性能越高,其結(jié)構(gòu)、技術(shù)、系統(tǒng)就越復(fù)雜,傳統(tǒng)的模擬技術(shù)電源管理IC滿足系統(tǒng)整體電源管理要求的難度也就越大,價(jià)格也更加昂貴;
2.數(shù)字控制器的核心主要由三個(gè)特殊模塊組成:抗混疊濾波器、模數(shù)轉(zhuǎn)換器和數(shù)字脈沖寬度調(diào)制器;
3.ADC分辨率必須能夠滿足誤差小于輸出電壓允許變化的范圍,所需的輸出電壓紋波越小,則對(duì)ADC的分辨率要求越高;
4.模擬控制器對(duì)所產(chǎn)生的可能脈沖寬度存在固有的限制,而DPWM可以產(chǎn)生離散和有限的PWM寬度集。